Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанобъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям.
Цена в интернет-магазине может отличаться от цены в магазинах сети.
- Вид товара:Книги
- Рубрика:Нанотехнологии
- Целевое назначение:Монографии
- ISBN:978-5-9963-1110-1
- Серия:Несерийное издание
- Издательство: Бином. Лаборатория знаний
- Год издания:2016
- Количество страниц:582
- Формат:70х100/16
- Доп. сведения:пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина ; под ред. Т. П. Каминской
- Переплет:твердый переплет
- Автор/Редактор/Составитель:под ред. Ж. Уэйли, Л. У. Жонг
- Код товара:3343074
Поделиться:
3343074